隨著各種電器和電子設(shè)備的廣泛應用，電磁污染日益加劇。我們進行屏蔽性能測試標準的探討是為了減少這種電磁污染，在整個電子系統(tǒng)中，所有單元組件尤其是電纜組件及射頻連接器等接插件應當采取屏蔽措施。為了對各種不同的屏蔽結(jié)構(gòu)進行屏蔽效果的比較，就需要一個標準化的測量方法，來進行對屏蔽衰減的測試，從而代替對轉(zhuǎn)移阻抗的測試。而與以mΩ/m 或mΩ為計量單位的轉(zhuǎn)移阻抗相比，RF 電纜、電纜組件和接插件的用戶也更加關(guān)注以分貝（dB）計量單位的屏蔽性能，即屏蔽衰減。

CoMeT測試系統(tǒng)是由CoMeT測試套管及相應的網(wǎng)絡(luò)分析儀組成。通過該系統(tǒng)的封閉測試裝置，可以測試出大于125dB的屏蔽衰減和**到μOhm的轉(zhuǎn)移阻抗。采用CoMeT 測試管系統(tǒng)可以根據(jù)下列國家、地區(qū)或國際標準來進行對轉(zhuǎn)移阻抗、屏蔽衰減及耦合衰減的測試。

屏蔽性能測試標準的探討之國際標準：

IEC 61196-1，同軸電纜：第壹部分通用規(guī)格，12.2 條款，表面轉(zhuǎn)移阻抗，

IEC 61196-1-A，第壹修訂版，屏蔽衰減測試法

IEC/PAS 62338 ED1，耦合衰減，三同軸測試法

屏蔽性能測試標準的探討之區(qū)域標準（歐洲標準）：

EN 50289-1-6 A：轉(zhuǎn)移阻抗，（三同軸測試法）

EN 50289-1-6 C：屏蔽衰減（三同軸測試法）

屏蔽性能測試標準的探討之國家標準（德國標準）：

DIN 47250 第4 部分，高頻電纜電路，3.11 條款，轉(zhuǎn)移阻抗

E DIN IEC 61196-1 高頻電纜，第壹部分，專業(yè)基礎(chǔ)說明－總論，定義、要求及測試方法 12.2 條款 轉(zhuǎn)移阻抗，三同軸測試法

VG 95214-12 被屏蔽元器件的轉(zhuǎn)移阻抗和屏蔽衰減的測試方法，第12 條款：KS12B 測試方法，轉(zhuǎn)移阻抗，三同軸測試法

VG 95214-13 被屏蔽元器件的轉(zhuǎn)移阻抗和屏蔽衰減的測試方法，第13 條款：KS13B 測試方法，屏蔽衰減，三同軸測試法

使用CoMeT 測試系統(tǒng)測試接插件和組合電纜的屏蔽衰減標準尚在制定中。IEC TC46/WG 正在將CoMeT管中管測試法制定成測試屏蔽性能的國際標準。

屏蔽性能測試標準的探討之電磁兼容（EMC）行業(yè)標準：

IEC 62153-4-x 系列: 金屬通信電纜測試方法，第四部分

? IEC 62153-4-3: 表面轉(zhuǎn)移阻抗 –三同軸測試方法

? IEC 62153-4-4: 屏蔽衰減,到 3 GHz頻率的屏蔽衰減測量方法

? IEC 62153-4-7: 屏蔽衰減, 通信電纜轉(zhuǎn)移阻抗 ZT的測試方法以及RF連接器和電纜以及電纜組件3GHz以內(nèi)屏蔽衰減測試方法，管中管方法

? IEC 62153-4-9, (IEC/PAS 62338 Ed1): 平衡電纜屏蔽衰減測試方法, 三同軸法

屏蔽性能測試標準的探討之中國國家標準

國軍標GJB1217-1991 方法3008 模式攪拌法，10GHz多接觸件連接器屏蔽效果測試(非適用)